Levalois, M., Allais, G. (1986) Etude par diffraction de RX de la densité de charge de valence de GaAs. Comparaison avec les résultats de calcul de pseudo-potentiel. Acta Crystallographica Section B Structural Science, 42 (5) 443-449 doi:10.1107/s0108768186097902
| Reference Type | Journal (article/letter/editorial) | ||
|---|---|---|---|
| Title | Etude par diffraction de RX de la densité de charge de valence de GaAs. Comparaison avec les résultats de calcul de pseudo-potentiel | ||
| Journal | Acta Crystallographica Section B Structural Science | ||
| Authors | Levalois, M. | Author | |
| Allais, G. | Author | ||
| Year | 1986 (October 1) | Volume | 42 |
| Issue | 5 | ||
| Publisher | International Union of Crystallography (IUCr) | ||
| DOI | doi:10.1107/s0108768186097902Search in ResearchGate | ||
| Generate Citation Formats | |||
| Mindat Ref. ID | 190487 | Long-form Identifier | mindat:1:5:190487:5 |
| GUID | 0 | ||
| Full Reference | Levalois, M., Allais, G. (1986) Etude par diffraction de RX de la densité de charge de valence de GaAs. Comparaison avec les résultats de calcul de pseudo-potentiel. Acta Crystallographica Section B Structural Science, 42 (5) 443-449 doi:10.1107/s0108768186097902 | ||
| Plain Text | Levalois, M., Allais, G. (1986) Etude par diffraction de RX de la densité de charge de valence de GaAs. Comparaison avec les résultats de calcul de pseudo-potentiel. Acta Crystallographica Section B Structural Science, 42 (5) 443-449 doi:10.1107/s0108768186097902 | ||
| In | (1986, October) Acta Crystallographica Section B Structural Science Vol. 42 (5) International Union of Crystallography (IUCr) | ||
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