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Louër, D., Weigel, D., Langford, J. I. (1972) Etude des profils de raies de diffraction des rayons X d'une poudre d'hydroxyde de nickel. Journal of Applied Crystallography, 5 (5) 353-359 doi:10.1107/s0021889872009756

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Reference TypeJournal (article/letter/editorial)
TitleEtude des profils de raies de diffraction des rayons X d'une poudre d'hydroxyde de nickel
JournalJournal of Applied Crystallography
AuthorsLouër, D.Author
Weigel, D.Author
Langford, J. I.Author
Year1972 (October 1)Volume5
Issue5
PublisherInternational Union of Crystallography (IUCr)
DOIdoi:10.1107/s0021889872009756Search in ResearchGate
Generate Citation Formats
Mindat Ref. ID463582Long-form Identifiermindat:1:5:463582:0
GUID0
Full ReferenceLouër, D., Weigel, D., Langford, J. I. (1972) Etude des profils de raies de diffraction des rayons X d'une poudre d'hydroxyde de nickel. Journal of Applied Crystallography, 5 (5) 353-359 doi:10.1107/s0021889872009756
Plain TextLouër, D., Weigel, D., Langford, J. I. (1972) Etude des profils de raies de diffraction des rayons X d'une poudre d'hydroxyde de nickel. Journal of Applied Crystallography, 5 (5) 353-359 doi:10.1107/s0021889872009756
In(1972, October) Journal of Applied Crystallography Vol. 5 (5) International Union of Crystallography (IUCr)

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